IGBT模块超声检测缺陷判据研究<sup>*</sup>

李聪成, 王刚明, 牛利刚, 刘杰, 高俊开

Research on Criterion of Defects Inspected by Ultrasonic Scanning in IGBT Module

LI Congcheng, WANG Gangming, NIU Ligang, LIU Jie, GAO Junkai

固体电子学研究与进展 . 2022, (3): 244 -250 .