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LDD MOSFET热载流子退化分析及其寿命预测
陈光前, 刘伟景, 刘先婷, 李清华
Hot Carrier Degradation Analysis and Lifetime Prediction of LDD MOSFET
CHEN Guangqian, LIU Weijing, LIU Xianting, LI Qinghua
固体电子学研究与进展 . 2024, (
4
): 351 -356 . DOI: 10.12450/j.gtdzx.202404013
