田源, 黄润华, 倪朝辉, 刘涛, 张国斌, 杨勇, 柏松
为解决SiC MOSFET在高温条件下性能受硅基驱动电路限制的问题,设计制造了一款基于4H‑SiC材料的驱动电路,用于改善电路整体的耐高温能力,并且分别在常温(25℃)和高温(300℃)条件下对驱动电路的性能进行了测试。常温下驱动电路在无负载条件下的上升沿延迟和下降沿延迟分别为2.496 μs和1.32 μs,高温下两者分别为1.61 μs和0.816 μs。在输出功率为100 W、输出电压为56 V、母线电压为320 V的条件下对驱动电路进行带负载测试,常温下驱动电流的充电电流峰值为129 mA,放电电流峰值为120 mA;高温下驱动电流的充电电流峰值为264 mA,放电电流峰值为221 mA。测试结果表明,该驱动电路可在环境温度为300℃时正常工作,且随着环境温度在25~300℃范围内逐渐上升,该驱动电路的驱动能力以及响应速度逐渐提升。