基于FCM的芯粒测试电路设计与实现

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固体电子学研究与进展 ›› 2023, Vol. 43 ›› Issue (1) : 64-69.

硅微电子学

基于FCM的芯粒测试电路设计与实现

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Design and Implementation of Chiplet Testing Circuit Based on FCM

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收稿日期	修回日期	出版日期
2022-05-17	2022-06-29	2023-02-28
发布日期
2023-02-28

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