背栅偏置对掩埋氧化层辐射感生陷阱电荷调控规律及机理<sup>&#x0002A;</sup>

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固体电子学研究与进展 ›› 2022, Vol. 42 ›› Issue (6) : 449-455.

器件物理与器件模拟

背栅偏置对掩埋氧化层辐射感生陷阱电荷调控规律及机理^*

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Regulation and Mechanism of Back Gate Bias on Buried Oxide Radiation-induced Trap Charge

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收稿日期	修回日期	出版日期
2021-12-08	2022-03-18	2022-12-25
发布日期
2024-09-25

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