GaAs集成电路的金属化缺陷失效定位研究*

刘丽媛, 郑林挺, 石高明, 林晓玲, 来萍, 陈选龙

固体电子学研究与进展 ›› 2022, Vol. 42 ›› Issue (2) : 146-149.

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固体电子学研究与进展 ›› 2022, Vol. 42 ›› Issue (2) : 146-149.
材料与工艺

GaAs集成电路的金属化缺陷失效定位研究*

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Study on Metal Defect Failure Localization of GaAs IC

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