
失配状态对GaN HEMT器件性能影响的研究
邵国键, 陈正廉, 林罡, 张茗川, 王云燕, 刘柱, 陈韬
固体电子学研究与进展 ›› 2021, Vol. 41 ›› Issue (6) : 470-473.
失配状态对GaN HEMT器件性能影响的研究
Study on the Influence of GaN HEMT Device Performance in Mismatch Condition
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