无带隙基准的超低功耗欠压检测技术研究<sup>&#x0002A;</sup>

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固体电子学研究与进展 ›› 2021, Vol. 41 ›› Issue (5) : 394-398.

硅微电子学

无带隙基准的超低功耗欠压检测技术研究^*

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Research on Ultra Low Power Under-voltage Detection Technology without Bandgap Reference

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{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2021, 41(5): 394-398

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收稿日期	修回日期	出版日期
2021-05-13	2021-07-09	2021-10-25
发布日期
2024-11-14

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