SiP外壳陶瓷裂纹及开短路异常分析与改进研究

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固体电子学研究与进展 ›› 2025, Vol. 45 ›› Issue (1) : 0. DOI: 10.12450/j.gtdzx.202501014

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SiP Shell Ceramic Crack and Open Short Circuit Anomaly Analysis and Improvement Research

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