增强型Si基GaN HEMT的p‑GaN栅特性改善研究

鲍诚, 王登贵, 任春江, 周建军, 倪志远, 章军云

固体电子学研究与进展 ›› 2025, Vol. 45 ›› Issue (1) : 0.

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固体电子学研究与进展 ›› 2025, Vol. 45 ›› Issue (1) : 0. DOI: 10.12450/j.gtdzx.202501002
宽禁带与超宽禁带半导体

增强型Si基GaN HEMT的p‑GaN栅特性改善研究

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Investigation on the Enhancement of p‑GaN Gate Characteristics of Enhanced Si‑based GaN HEMT

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