LDD MOSFET热载流子退化分析及其寿命预测

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固体电子学研究与进展 ›› 2024, Vol. 44 ›› Issue (4) : 351-356. DOI: 10.12450/j.gtdzx.202404013

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Hot Carrier Degradation Analysis and Lifetime Prediction of LDD MOSFET

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