GaN收发多功能芯片在片集成测试优化

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固体电子学研究与进展 ›› 2024, Vol. 44 ›› Issue (4) : 315-318. DOI: 10.12450/j.gtdzx.202404007

GaN收发多功能芯片在片集成测试优化

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Optimization of On‑wafer Integration Testing of GaN Transceiver Multifunctional Chips

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