纳米银浆低温烧结工艺及可靠性分析

吴迪, 方健, 季子路, 崔洪波, 徐伟

固体电子学研究与进展 ›› 2024, Vol. 44 ›› Issue (3) : 269-274.

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固体电子学研究与进展 ›› 2024, Vol. 44 ›› Issue (3) : 269-274. DOI: 10.12450/j.gtdzx.202403015
器件材料与工艺

纳米银浆低温烧结工艺及可靠性分析

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
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Low‑temperature Sintering Process and Reliability Analysis of Nano Silver Paste

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2024, 44(3): 269-274 https://doi.org/10.12450/j.gtdzx.202403015
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2024, 44(3): 269-274 https://doi.org/10.12450/j.gtdzx.202403015
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{{article.reference}}

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{{article.copyrightStatement_cn}}
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